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| 內容簡介： |
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本书系统地介绍了集成电路测试所涉及的基础知识和实践经验。全书共分为15章。其内容包括实际的导线、电阻、电容、电感元件在测试电路中的影响，自动测试设备（ATE）V/I源的基本原理和实际应用限制，一些简单的模拟和数字集成电路测试原理和方法，测试数据分析的常用方法，以及测试电路相关的信号完整性方面的简单介绍，并结合测试开发的实际案例讲解了集成电路测试项目开发流程。以往这些内容分散到不同教材中，缺乏系统性。本书以集成电路测试为主线，从ATE应用角度，结合编者多年来的研发和应用经验，将基础知识串联起来。尤其从测试行业新人培养出发，加入了V/I源的基本原理和实际应用限制的讲解，并提供了仿真模型，使读者能够快速、全面地了解集成电路测试所需的各项基础知识。本书可作为集成电路测试工程师的学习教材，或者集成电路自动测试设备应用工程师的基础知识培训教材。
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| 關於作者： |
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2013年起，任职于佛山市联动科技股份有限公司，从事自动化测试设备的研发管理、测试验证以及应用方案开发的技术支持工作，对自动化测试设备本身有深入的研究，同时有丰富的集成电路测试工程师的培训经验，除了对本公司人员进行培训外，还对国内外的封测企业的客户工程师进行过多次培训。
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| 目錄：
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目 录第1章 关于集成电路测试11.1 集成电路测试相关书籍和标准推荐11.2 准备工作21.3 一些小约定31.4 英文缩写3第2章 从理想电路到实际电路72.1 实际的导线72.1.1 开尔文连接72.1.2 屏蔽与驱动保护112.1.3 磁环与磁珠132.2 实际的电阻132.2.1 电阻的作用132.2.2 实际电阻的分压电路142.3 实际的电容152.3.1 电容的参数以及影响152.3.2 实际电路中的电容152.3.3 电压驱动电阻电容（RC）电路的一阶系统响应182.4 实际的电感192.4.1 电感的作用192.4.2 实际电路中的电感202.5 驱动与负载202.5.1 驱动能力的限制202.5.2 负载效应的影响222.6 继电器和电子开关23第3章 电源与测量的基本电路263.1 V/I源的基本结构263.1.1 整体结构263.1.2 电压输出模式273.1.3 电流输出模式303.1.4 波形发生器模式323.1.5 V/I源的测量353.2 V/I源的限制353.2.1 输出稳定时间353.2.2 反馈响应时间353.2.3 高度模型化的V/I源363.3 ATE的测量电路393.3.1 电压测量393.3.2 时间测量403.3.3 扫描测量403.4 数字测试源403.4.1 电源供电电路403.4.2 直流参数测量电路413.4.3 驱动输出电路413.4.4 比较输入电路423.4.5 有源负载电路43第4章 测试程序设计要求454.1 测试程序的特殊要求454.2 程序设计的风格464.3 程序设计的防误方法46第5章 误差与校准485.1 基于误差的计算485.1.1 基于已有的元件参数计算电路误差485.1.2 基于规格允许的误差选择元件参数495.2 线性校准的原理与方法495.3 非线性校准与数据拟合53第6章 模拟信号调理基础576.1 电压放大与衰减电路576.1.1 电压放大电路576.1.2 电压衰减电路586.2 电压与电流转换电路586.2.1 电流电压转换586.2.2 电压电流转换596.2.3 测试三极管的VBE606.3 比较电路636.3.1 单限比较器636.3.2 窗口比较器636.3.3 滞回比较器636.4 特性提取电路656.4.1 峰值提取656.4.2 滤波电路666.4.3 采样保持676.4.4 边沿检测676.4.5 脉宽检测686.5 信号修调电路706.5.1 钳位限幅706.5.2 电平调整706.5.3 隔离转换726.5.4 分频电路736.6 相位补偿基础736.6.1 极点和零点736.6.2 相位补偿理论基础796.6.3 运放环路增益精确测量的两种方法866.6.4 相位补偿的灵活运用93第7章 数字信号处理基础977.1 移动平均滤波977.2 卷积与FIR滤波器1007.2.1 卷积1007.2.2 FIR滤波器1037.3 傅里叶变换1157.3.1 离散傅里叶变换和窗函数滤波器的频谱1157.3.2 窗函数解决频谱泄漏的应用1207.3.3 快速傅里叶变换1207.3.4 THD和SNR等频域参数的计算1267.3.5 FFT计算的注意事项130第8章 测试方法基础1338.1 开短路（Open-Short）测试1338.2 接触（Contact）测试/开尔文（Kelvin）测试1348.3 LDO的测试1358.3.1 参考电压1368.3.2 线性调整率1378.3.3 负载调整率1388.3.4 输出电流（Iadj）测试1388.3.5 最小负载电流1398.3.6 纹波抑制比1408.3.7 输出短路电流1418.4 运算放大器测试1428.4.1 运放的测试电路1428.4.2 运放VIO参数的测试1438.4.3 运放的CMRR参数测试1458.4.4 运放的输入偏置电流测试1488.4.5 运放的其他参数1518.5 数字通信测试1518.5.1 数字芯片的文档1518.5.2 数字IO口的DC参数1528.5.3 数字IO口的AC参数1528.5.4 I2C通信的存储器1538.5.5 SPI通信的存储器158第9章 测试数据分析1649.1 基本概念1649.1.1 测试结果（Test Result）1649.1.2 接受参照值（Accepted Reference Value）1649.1.3 准确度（Accuracy）1649.1.4 正确度（Trueness）1659.1.5 偏倚（Bias）1659.1.6 精密度（Precision）1659.1.7 重复性（Repeatability）1659.1.8 再现性（Reproducibility）1659.1.9 常用数据分析方法1659.2 相关性验证（CORR）1669.3 重复性与再现性（GRR）1669.3.1 不同配置之间的GRR计算1679.3.2 仪器验收的GRR计算1709.4 测试能力研究（TCS）1749.5 多Sites并行测试的数据验证1769.6 测试数据统计分析图1779.7 多Sites并行测试的效率以及UPH计算177第10章 信号和电源完整性的简介17910.1 方波的傅里叶级数17910.2 使用一阶RC电路仿真上升沿时间与带宽的关系18410.3 时域反射计（TDR）与线长校准18510.4 测试电路的地188第11章 实训平台介绍19211.1 QT-8100测试系统功能概述19211.1.1 QT-8100测试系统可测试的器件类型19211.1.2 QT-8100测试系统适用的测试过程19311.1.3 QT-8100测试系统的基础配置19311.2 QT-8100测试系统硬件系统组成19411.2.1 QT-8100测试系统的整体结构19411.2.2 QT-8100测试系统的硬件系统框图19411.2.3 QT-8100测试系统的主要模块和板卡19511.2.4 QT-8100测试系统的机架结构组成20411.2.5 QT-8100测试系统的通道资源简介20511.2.6 QT-8100测试系统的背板简介20711.2.7 QT-8100测试系统的培训板简介20811.3 QT-8100测试系统软件系统组成209第12章 测试方案开发简介21112.1 测试程序开发流程21112.2 测试程序的执行过程21112.3 测试函数的完整结构21312.4 测试方案开发流程214第13章 LDO的测试21613.1 Datasheet与Testplan的分析21613.1.1 Datasheet里的总体性能描述21613.1.2 Datasheet里的电气特性21713.1.3 Testplan里的测试规格21813.1.4 Testplan里的测试方法21813.2 测试方案的设计与调试22213.2.1 Open-Short测试22213.2.2 线性调整率22513.2.3 负载调整率22713.2.4 参考电压23013.2.5 调整脚电流23413.2.6 最小负载电流23613.2.7 最大负载电流23913.2.8 电源纹波抑制比241第14章 集成运算放大器的测试24614.1 集成运算放大器的基本特性24614.1.1 特征24614.1.2 工作模式24614.2 Datasheet的分析24714.2.1 重要特性24714.2.2 引脚定义与封装24714.2.3 功能原理框图24814.2.4 电气特性24914.3 集成运算放大器的测试方法25014.3.1 运放的VIO（VOS）参数测试25014.3.2 运放的CMRR参数测试25014.3.3 运放的IB（IIB）参数测试25014.3.4 运放的VOH＆VOL参数测试25114.3.5 运放的IQ（ICC）参数测试25114.3.6 运放的PSRR参数测试25114.3.7 运放的开环电压增益AVO（AVOL）参数测试25214.3.8 运放的压摆率（Slew Rate，SR）参数测试25314.4 Test plan的分析25414.5 测试方案的设计25514.5.1 连续性（Continuity）25514.5.2 静态电流IQ25614.5.3 输出高电平VOH，输出低电平VOL25714.5.4 输入失调电压（VOS）25714.5.5 输入偏置电流（IB），输入失调电流（IOS）25814.5.6 电源抑制比（PSRR）25914.5.7 共模抑制比（CMRR）25914.5.8 开环放大倍数AVOL25914.5.9 压摆率（SR）26014.5.10 ATE的资源分配26114.6 测试函数的编写26114.6.1 测试工程的新建26114.6.2 测试程序的PIN MAP设置26214.6.3 测试程序的Datasheet与Bin设置26214.6.4 测试函数的编写26314.7 测试程序的调试27514.7.1 测试项目的启动27514.7.2 测试项目的调试27514.7.3 测试结果276第15章 I2C接口的EEPROM存储器测试27715.1 Datasheet与Testplan的分析27715.1.1 Datasheet里的总体性能描述27715.1.2 Datasheet里的存储空间介绍27815.1.3 Datasheet里的物理连接介绍28015.1.4 Datasheet里的I2C总线介绍28215.1.5 Datasheet里的直流参数含义28515.1.6 Testplan的分析28615.2 测试方案的设计与调试28715.2.1 测试电路的设计28715.2.2 测试工程的新建28715.2.3 测试程序的PIN MAP设置28815.2.4 测试程序的Datasheet与Bin设置28915.2.5 连续性测试28915.2.6 IIL/IIH/ISB的测试29215.2.7 Func_AA的测试295附录 采样定理以及ADC的量化噪声305参考文献319
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