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大書城 以“ 精确 模式”搜“ 廖广兰 何岭松 刘智勇机械 ”共有 6 結果: 支援简体 / 繁體 / 正體字輸入搜索
工程测试技术基础 工程测试技术基础
作者:廖广兰何岭松,刘智勇[机械]  出版:华中科技大学出版社  日期:2021-09-01
1、本书为普通高等教育“十一五”*规划教材,*一流本科课程“工程测试技术基础”配套教材;2、本书主要 ...
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售價:NT$ 274

工程测试技术基础(英文版) 工程测试技术基础(英文版)
作者:何岭松,冯搏  出版:华中科技大学出版社  日期:2022-02-01
1、本书作者为*教学名师,屡次应邀在机械课程论坛及各类教学改革会议上交流,在高教改革领域具有广泛的影 ...
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售價:NT$ 296

碳电极钙钛矿光伏器件制备与集成技术 碳电极钙钛矿光伏器件制备与集成技术
作者:史铁林,廖广兰,刘智勇,刘星月  出版:华中科技大学出版社  日期:2023-08-01
本书内容是作者所在课题组在*创新团队“微纳制造与纳米测量技术”、国家重点研发计划“高效稳定大面积钙钛 ...
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售價:NT$ 755

集成电路先进封装工艺——Cu-Cu键合技术 集成电路先进封装工艺——Cu-Cu键合技术
作者:史铁林 李俊杰 汤自荣 廖广兰  出版:高等教育出版社  日期:2022-03-01
微电子封装中的互连键合是集成电路(integrated circuits,IC)后道制造中关键和难度的环节,直接影响集成 ...
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售價:NT$ 556

Zr基非晶合金微小零件制备技术 Zr基非晶合金微小零件制备技术
作者:史铁林,廖广兰  出版:科学出版社  日期:2019-11-01
非晶合金是20世纪材料领域*重大的发现之一,具有许多传统晶态金属所没有的物理、化学性能。如高强度、高硬度、大弹性应变极限 ...
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售價:NT$ 1172

倒装芯片缺陷无损检测技术 倒装芯片缺陷无损检测技术
作者:廖广兰,史铁林,汤自荣  出版:高等教育出版社  日期:2019-12-01
微电子封装互连是集成电路(IC)后道制造中难度*也*为关键的环节,对IC产品的体积、成本、性能和可靠性等都有重要影响。为 ...
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售價:NT$ 617

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