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恩云飞 谢少锋 何小琦 工业和信息化部电
”共有
5
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可靠性物理
作者：恩云飞,谢少锋,何小琦,工业和信息化部电子第五研究所 出版：电子工业出版社 日期：2015-10-01 本选题全面阐述了电子元器件可靠性物理的基本概念和元器件失效机理。全书共14章，前3章介绍可靠性物理基本理论、电子材料和应力、典型失效物理模型，后八章分别论述了微电子器件、光电子器件、高密度集成电路等1 ... |
詳情>> | 售價：NT$ 730 
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电子微组装可靠性设计（基础篇）
作者：何小琦 出版：电子工业出版社 日期：2020-09-01 本书介绍了电子微组装可靠性设计方法，提出了基于失效物理的可靠性设计核心技术链，包括潜在失效机理分析、可靠性设计指标分解、参数退化及失效时间评估、优化设计分析等关键技术，系统论述了微组装产品在温度应力、 ... |
詳情>> | 售價：NT$ 828
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可靠性设计
作者：谢少锋 编著 出版：电子工业出版社 日期：2015-10-01 本书分为上下两篇，主要介绍了可靠性设计的指导思想、理论依据和实施方法及其案例。上篇为可靠性定量设计，包括可靠性建模、预计、分配、FMEA、FTA等内容，其主要目的是向读者介绍可靠性定量活动中*常用的技 ... |
詳情>> | 售價：NT$ 1145
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半导体集成电路的可靠性及评价方法
作者：章晓文,恩云飞,工业和信息化部电子第五研究所 出版：电子工业出版社 日期：2015-10-01 本书共11章，以硅集成电路为中心，重点介绍了半导体集成电路及其可靠性的发展演变过程、集成电路制造的基本工艺、半导体集成电路的主要失效机理、可靠性数学、可靠性测试结构的设计、MOS场效应管的特性、失效机 ... |
詳情>> | 售價：NT$ 730
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电子元器件失效分析技术
作者：恩云飞,来萍,李少平,工业和信息化部电子第五研究所 出版：电子工业出版社 日期：2015-11-01 本书是电子产品质量和可靠性方面的专业类书籍，既有基础理论，又有具体技术、方法流程和应用，可以为电子行业的相关工程人员提供很好的指导和帮助。 ... |
詳情>> | 售價：NT$ 813
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