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集成电路测试技术
作者:武乾文 出版:电子工业出版社 日期:2022-10-01 本书全面、系统地介绍了集成电路测试技术。全书共分10章,主要内容包括:集成电路测试概述、数字集成电路测试技术、模拟集成电路测试技术、数模混合集成电路测试技术、射频电路测试技术、SoC及其他典型电路测试 ... |
詳情>> | 售價:NT$ 653 ![]() |
>>> (頁碼:1/1 行數:20/1) 1 |
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