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Eishi H Ibe伊部英治
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现代集成电路和电子系统的地球环境辐射效应
作者：[日]Eishi H. Ibe[伊部英治] 出版：电子工业出版社 日期：2019-01-01 地球环境辐射在器件电路中引入故障或错误，从而导致电子系统失效。 本书对多种降低软错误影响的预测、检测、表征和缓解技术进行了分析和讨论； ... |
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大气中子在先进存储器件中引起的软错误
作者：[日]中村刚史 等著，陈伟 等译 出版：国防工业出版社 日期：2015-10-01 中村刚史、马场守、伊部英治、矢作康夫、龟山英明*的《大气中子在先进存储器件中引起的软错误》由日本东北大学的。Takashi Nakamura、日立有限公司的Eishi Ibe和萨瑞公司的Hideaki Kamayama编*，详细介绍了宇宙射 ... |
詳情>> | 售價：NT$ 739
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