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X射线荧光光谱分析
作者:吉昂 出版:科学出版社 日期:2019-11-01 本书系统地介绍了X射线荧光光谱分析的理论、测试技术和实际应用,以及近年来的重要进展。书中重点论述了波长色散和能量色散X射线荧光光谱所涉及的基本理论和实验技术、理论强度计算公式、基体校正、样品制备、定量 ... |
詳情>> | 售價:NT$ 498 ![]() |
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