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数字集成电路测试——理论、方法与实践
作者：李华伟、郑武东、温晓青、赖李洋、叶靖、李晓维 出版：清华大学出版社 日期：2024-06-01 本书从数字集成电路测试在数字芯片设计阶段发挥的重要作用出发，系统地介绍了数字电路测试的完整技术体系，内容突出基础理论和关键技术，并以西门子EDA工具Tessent的设计脚本为例，介绍了这些技术在测试综 ... |
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