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多核处理器设计优化——低功耗、高可靠、易测试
作者：李晓维等 出版：科学出版社 日期：2021-11-01 《多核处理器设计优化：低功耗、高可靠、易测试》主要内容涉及多核处理器设计优化的三个方面：低功耗、高可靠和易测试；从处理器 ... |
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数字集成电路测试——理论、方法与实践
作者：李华伟、郑武东、温晓青、赖李洋、叶靖、李晓维 出版：清华大学出版社 日期：2024-06-01 本书从数字集成电路测试在数字芯片设计阶段发挥的重要作用出发，系统地介绍了数字电路测试的完整技术体系， ... |
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