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贺朝会等
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纳米级系统芯片单粒子效应研究
作者：贺朝会等 出版：科学出版社 日期：2021-05-01 辐射物理、抗辐射加固、空间电子学、电子元器件、微电子学、核技术等方向科研人员，辐射效应研究、SoC应 ... |
詳情>> | 售價：NT$ 568 
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多尺度模拟方法在半导体材料位移损伤研究中的应用
作者：贺朝会，唐杜，臧航，邓亦凡，田赏 出版：科学出版社 日期：2023-10-01 本书系统介绍了用于材料位移损伤研究的多尺度模拟方法，包括辐射与材料相互作用模拟方法、分子动力学方法、动力学蒙特卡罗方法、 ... |
詳情>> | 售價：NT$ 765
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