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集成电路器件抗辐射加固设计技术
作者：闫爱斌等 出版：科学出版社 日期：2023-03-01 《集成电路器件抗辐射加固设计技术》从集成电路器件可靠性问题出发，具体阐述了辐射环境、辐射效应、软错误和仿真工具等背景知识，详细介绍了抗辐射加固设计（RHBD）技术以及在该技术中常用的相关组件，重点针对 ... |
詳情>> | 售價：NT$ 658 
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