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內容簡介： 本书面向伪电子元件领域的初学者和专家，全面介绍相关的研究背景、安全威胁、物理和电子测试方法、对抗伪IC的防伪设计方法等相关研究主题，可为直接或间接受到伪元件强烈影响的政府、工业、测试实验室，以及学术界提供必需的路线图。 目錄： 第1章概述 1.1伪造品的历史 1.2伪造品 1.3伪造品占据了超过万亿美元的市场 1.4伪电子产品是一种新兴的威胁 1.5国防工业领域的伪电子产品评估 1.6总结 参考文献 第2章伪集成电路 2.1伪集成电路的类型 2.2伪电子元件的分类 2.2.1回收 2.2.2重标记 2.2.3超量生产 2.2.4不合格/有缺陷 2.2.5克隆 2.2.6伪造文件 2.2.7篡改 …… 第3章 伪集成电路缺陷 第4章 基于物理测试的伪集成电路检测 第5章 基于电气测试的伪集成电路检测 第6章 现有伪元件检测方法的覆盖率评估 第7章 高级物理测试 第8章 高级电气测试 第9章 回收晶片与集成电路的防范 第10章 硬件IP水印 第11章 非可信制造商/组装商的未授权/不合格IC的预防 第12章 芯片识别码

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