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| 內容簡介： |
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《硅后验证与调试》系统阐述硅后验证和SoC调试中所面临的关键挑战、前沿技术与最新研究进展，旨在显著提升验证效率并降低调试成本。 《硅后验证与调试》汇集了硅后验证和调试专家的研究成果：第1章概述SoC设计方法学，并强调硅后验证和调试所面临的挑战；第2～6章描述设计调试架构的有效技术，包括片上设备和信号选择；第7～10章介绍生成测试和断言的有效技术；第11～15章提供自动化方法，用于定位、检测和修复硅后错误；第16～17章描述两个案例研究（NoC和IBM POWER8处理器）；第18章讨论设计调试与安全漏洞之间的内在冲突；第19章展望硅后验证与调试的未来发展趋势和潜在突破方向。
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| 目錄：
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目录第Ⅰ部分 概 述第1章 SoC硅后验证的挑战 21.1 引言 21.2 验证工作 31.3 硅后验证准备规划 71.4 硅后验证与调试架构 71.5 测试生成 91.6 硅后调试 101.7 小结 11参考文献 12第Ⅱ部分 调试架构第2章 SoC测试设备：面向硅后验证的硅前设计准备 162.1 引言 162.2 硅后验证规划与开发生命周期 172.3 测试设备的早期历史：DFT 192.4 跟踪 222.5 数组访问、触发和补丁 242.6 调试软件集成 262.7 小结 27参考文献 28第3章 硅后验证中的结构化信号选择 293.1 引言 293.2 相关工作 303.3 信号恢复 323.4 门级信号选择（GSS） 343.5 基于RTL的信号选择 393.6 实验 443.7 小结 46参考文献 47第4章 基于仿真的信号选择 494.1 介绍 494.2 相关工作 504.3 背景与动机 514.4 改进恢复能力指标 544.5 基于选择算法的设计 574.6 实验结果 594.7 小结 64参考文献 65第5章 混合信号选择 665.1 引言 665.2 基础知识 675.3 混合信号选择算法 685.4 小结 73参考文献 74第6章 基于机器学习的硅后信号选择 756.1 引言 756.2 背景 766.3 探索策略 776.4 基于机器学习的信号选择 796.5 基于特征的信号选择 846.6 不同信号选择技术的比较 886.7 小结 91参考文献 92第Ⅲ部分 测试和断言的生成第7章 可观测性感知的硅后测试生成 947.1 引言 947.2 可观测性感知测试生成 967.3 案例研究 1027.4 小结 103参考文献 104第8章 片上约束随机激励生成 1068.1 硅后受约束的随机验证 1068.2 功能约束的表示 1078.3 片上功能约束生成器 1098.4 功能约束的实验评估 1118.5 片上验证期间的激励分布 1148.6 非重叠序列的生成 1158.7 片上激励支持分布式控制的变体 1168.8 支持分布式控制的解决方案实验评估 1198.9 小结 122参考文献 123第9章 测试生成和用于多核内存一致性的轻量级检查 1249.1 引言 1249.2 MTraceCheck：高效的内存一致性验证 1289.3 实验评估 1399.4 Bug注入案例研究 1479.5 讨论 1499.6 小结 150致谢 150参考文献 151第10章 硅后验证硬件断言的选择 15410.1 硬件断言 15410.2 研究方法 15510.3 排名算法 15910.4 断言综合 16310.5 基于FPGA 的仿真 16610.6 结果与讨论 17310.7 小结 177致谢 177参考文献 178第Ⅳ部分 硅后调试第11章 调试数据缩减技术 18011.1 疲于奔命 18011.2 常见的调试方法 18111.3 运行-暂停调试的简化方案 18211.4 全速调试的缩减技术 18811.5 小结 195参考文献 196第12章 硅后故障的高级调试 19712.1 动机与所提出的硅后方案调试流程 19712.2 支持硅后分析与调试的基于C 语言的设计流程提案 19812.3 在设计中引入少量可编程性 19912.4 利用实现设计中的可编程性进行硅后分析 20212.5 实施具备可编程性的设计修正 20512.6 当出现硅后缺陷时自动调整高层次设计 20812.7 小结 215参考文献 216第13章 基于可满足性求解器的硅后故障定位 21713.1 引言 21713.2 硅后故障定位 21813.3 基于SAT 的故障定位实践 22213.4 小结 232致谢 232参考文献 233第14章 虚拟原型的硅后测试覆盖率评估与分析 23514.1 引言 23514.2 背 景 23714.3 硅后测试的覆盖率评估 23914.4 硅后测试的运行时间分析 25014.5 相关工作 25914.6 小结 259参考文献 261第15章 利用调试架构进行硅后覆盖率分析 26215.1 引言 26215.2 背 景 26415.3 硅后功能的覆盖率分析 26515.4 实验 27015.5 小结 272参考文献 273第V部分 案例研究第16章 片上网络验证与调试 27616.1 引言 27616.2 NoC概述 27716.3 NoC验证与调试所面临的*特挑战 27816.4 NoC验证与调试方法论 28316.5 小结 288参考文献 289第17章 IBM POWER8处理器的硅后验证 29117.1 引言 29117.2 POWER8 29217.3 统一方法学 29317.4 测试程序 29517.5 实验准备工作 29717.6 触发Bug 29817.7 检查Bug 29917.8 覆盖率收敛 30017.9 鉴别分类 30217.10 调 试 30317.11 成 果 30517.12 未来挑战 30717.13 小结 307参考文献 308第VI部分 回顾与未来方向第18章 SoC安全与硅后调试冲突 31018.1 引言 31018.2 背景 31018.3 基于扫描链的攻击 31218.4 跟踪缓冲器攻击 31318.5 实验结果 31918.6 小结 323参考文献 324第19章 硅后调试的未来 32619.1 回顾 32619.2 未来的发展方向 328参考文献 330
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