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大書城 以“ 精确 模式”搜“ 佐藤淳一 ”共有 6 結果: 支援简体 / 繁體 / 正體字輸入搜索
图解入门 功率半导体基础与工艺精讲(原书第2版) 图解入门 功率半导体基础与工艺精讲(原书第2版)
作者:佐藤淳一  出版:机械工业出版社  日期:2022-09-01
本书以图解的方式深入浅出地讲述了功率半导体制造工艺的各个技术环节。全书共分为10章,包括俯瞰功率半导体工艺全貌、功率半导体的基础知识及运作、各种功率半导体的作用、功率半导体的用途与市场、功率半导体的分类、用于功率半导体的硅晶圆、硅功率半导体的发展、挑战硅极限的SiC与GaN、功率半导体制造过程的特征、功率半导体开辟绿色 ...
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售價:NT$ 505

图解入门——功率半导体基础与工艺精讲(原书第3版) 图解入门——功率半导体基础与工艺精讲(原书第3版)
作者:佐藤淳一  出版:机械工业出版社  日期:2023-11-01
本书以图解的方式深入浅出地讲述了功率半导体制造工艺的各个技术环节。全书共分为11章,分别是:功率半导体的全貌、功率半导体的基本原理、各种功率半导体的原理和作用、功率半导体的用途与市场、功率半导体的分类、用于功率半导体的硅片、功率半导体制造工艺的特点、功率半导体生产企业介绍、硅基功率半导体的发展、挑战硅极限的碳化硅与氮化 ...
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售價:NT$ 505

图解入门半导体系列(共两册:器件缺陷+功率半导体) 图解入门半导体系列(共两册:器件缺陷+功率半导体)
作者:山本秀和 上田修 佐藤淳一  出版:机械工业出版社  日期:2024-04-01
本书共分为4章,内容包括半导体器件缺陷及失效分析技术概要、硅集成电路(LSI)的失效分析技术、功率器件的缺陷及失效分析技术、化合物半导体发光器件的缺陷及失效分析技术。笔者在书中各处开设了专栏,用以介绍每个领域的某些方面。在第2~4章的末尾各列入了3道例题,这些例题出自日本科学技术联盟主办的“初级可靠性技术者”资格认定考 ...
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售價:NT$ 1010

图解入门 半导体制造工艺基础精讲(原书第4版) 图解入门 半导体制造工艺基础精讲(原书第4版)
作者:佐藤淳一  出版:机械工业出版社  日期:2022-03-01
本书力求深入浅出、浅显易懂。面向的对象既包含具有一定半导体知识的读者,也包含与半导体商务相关的人士、准备涉足半导体领域的人士、感兴趣的职场人士、学生等。书中包含了专业性的描述,但大多数内容都尽量写得通俗易懂。有些地方如果不能马上理解,积累经验后再读就容易理解了。此外,对于有一定经验的读者,通过整理自己的知识,尝试去理解 ...
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售價:NT$ 505

图解入门 半导体制造设备基础与构造精讲 原书第3版 图解入门 半导体制造设备基础与构造精讲 原书第3版
作者:佐藤淳一  出版:机械工业出版社  日期:2022-06-01
本书以简洁明了的结构向读者展现了半导体制造工艺中使用的设备基础和构造。全书涵盖了半导体制造设备的现状以及展望,同时也对清洗和干燥设备、离子注入设备、热处理设备、光刻设备、蚀刻设备、成膜设备、平坦化设备、监测和分析设备、后段制程设备等逐章进行解说。虽然包含了很多生涩的词汇,但难能可贵的是全书提供了丰富的图片和表格,帮助读 ...
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售價:NT$ 505

图解入门半导体系列(共四册:器件缺陷+元器件+设备基础与构造+制造工艺) 图解入门半导体系列(共四册:器件缺陷+元器件+设备基础与构造+制造工艺)
作者:山本秀和 上田修 二川清 执行直之 佐藤淳一  出版:机械工业出版社  日期:2024-04-01
本书共分为4章,内容包括半导体器件缺陷及失效分析技术概要、硅集成电路(LSI)的失效分析技术、功率器件的缺陷及失效分析技术、化合物半导体发光器件的缺陷及失效分析技术。笔者在书中各处开设了专栏,用以介绍每个领域的某些方面。在第2~4章的末尾各列入了3道例题,这些例题出自日本科学技术联盟主办的“初级可靠性技术者”资格认定考 ...
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售價:NT$ 2020

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