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內容簡介： 本书主要内容包括：基本概念、IEEE1149.X标准、单板级可测性设计、边界扫描测试应用、内建自测试技术、处理器测试技术、嵌入式测试技术。 本书适合于相关领域工程技术人员阅读，也可作为高等院校电子信息、通信、测试测控、自动化等专业高年级学生或研究生的教学参考书。 目錄： 第1章 测试的基本概念 1.1 数字电路测试 1.1.1 测试 1.1.2 测试分类 1.1.3 数字电路分类 1.2 故障及故障模型 1.3 算法 1.4 测试覆盖率和故障检出率 1.5 测试矢量 1.5.1 组合电路的测试矢量生成 1.5.2 时序电路的测试矢量生成 1.6 可测性 1.6.1 可控性 1.6.2 可观性 1.6.3 可测性设计方法 第2章 单板级.ITAG测试 2.1 背景介绍 2.2 传统单板测试方法的困难 2.2.1 在线测试 2.2.2 光学测试 2.2.3 功能测试 2.3 生产制造应用 2.4 JTAG测试技术 2.5 单板级JTAG测试 …… 第3章 IEEE1149.X标准 第4章 单板级边界扫描可测性设计 第5章 边界扫描测试技术应用 第6章 串行矢量格式 第7章 内建自测试技术 第8章 片上仿真测试 第9章 嵌入测试 参考文献

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