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編輯推薦： 《X射线多晶衍射数据Rietveld精修及GSAS软件入门》一书具有很强的实用性，可以作为材料、化学以及地质等领域学习X射线多晶衍射Rietveld法结构精修和GSAS软件的研究人员的入门参考书，也可以作为本科生、研究生教学的实验教材。 內容簡介： Rietveld法全谱拟合已成为X射线多晶衍射修正晶体结构的重要方法。本书共分为四章，侧重从操作示例介绍Rietveld法的基本原理和精修过程。第1章简要介绍Rietveld法的发展概况和基本原理。第2章介绍精修软件EXPGUI-GSAS的安装和使用界面。第3章介绍Rietveld法X射线多晶衍射数据的实验测试，并以简单例子演示EXPGUI-GSAS精修过程以及结果的提取和图谱绘图。第4章给出了三个提高练习示例，包括创建仪器参数文件、含非晶混合物的定量分析以及占位修正等。 目錄： 第1章　Rietveld法结构精修 　1.1　Rietveld法结构精修发展概况 　1.2　Rietveld法基本原理 　1.3　参数修正顺序与结果判据 1.3.1　参数修正的顺序 1.3.2　精修的数值判据 1.3.3　精修的图示判断 　1.4　精修过程出现的问题和对策 　1.5　Rietveld法结构精修的应用 1.5.1　修正晶体结构 1.5.2　相变研究和点阵常数测定 1.5.3　物相定量分析 1.5.4　晶粒尺寸和微应变测定 第2章　EXPGUI-GSAS软件安装与界面介绍 　2.1　GSAS软件简介 　2.2　EXPGUI-GSAS软件的安装 　2.3　EXPGUI-GSAS软件界面介绍 2.3.1　菜单栏 2.3.2　选项卡界面 2.3.3　EXPGUI帮助内容 第3章　EXPGUI-GSAS结构精修起步 　3.1　精修前的准备工作 3.1.1　衍射数据的测定 3.1.2　衍射数据的转换 3.1.3　初始结构的获取 　3.2　EXPGUI精修简单示例 3.2.1　生成EXP文件 3.2.2　精修过程 3.2.3　常见问题 　3.3　精修结果提取与绘图 3.3.1　精修结果提取 3.3.2　精修图谱绘图 第4章　EXPGUI-GSAS提高练习 　4.1　仪器参数文件的建立 4.1.1　基本知识 4.1.2　操作过程 　4.2　物相（含非晶）定量分析 4.2.1　基本原理 4.2.2　衍射数据测试 4.2.3　精修过程 　4.3　Le Bail法拟合以及约束的使用 4.3.1　问题描述 4.3.2　精修过程 参考文献

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