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邓二平、黄永章、丁立健 编著
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功率半导体器件：封装、测试和可靠性
作者：邓二平、黄永章、丁立健 编著 出版：化学工业出版社 日期：2024-05-01 本书讲述了功率半导体器件的基本原理，涵盖Si器件、SiC器件，GaN器件以及GaAs器件等；综合分析和呈现了不同类型器件的封装形式、工艺流程、材料参数、器件特性和技术难点等；将功率器件测试分为特性测试、极限能力测试、高温可靠性测试、电应力可靠性测试和寿命测试等，并详细介绍了测试标准、方法和原理，同步分析了测试设备和数据 ... |
詳情>> | 售價：NT$ 709 
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