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半导体光谱测试方法与技术 半导体光谱测试方法与技术
作者:张永刚,顾溢,马英料  出版:科学出版社  日期:2016-01-01
本书首先介绍了光谱学和光谱仪器的发展概况和基本原理,分析了半导体材料、器件及其应用研究工作以及相关研制和生产中对光谱测试的需求,然后论述各种光谱仪器的分类及其工作原理,分别探讨基于分光光谱仪和傅里叶变换光谱仪等的光谱测量系统,包括其各部分的 ...
詳情>>
售價:NT$ 960

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