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[日]Eishi H Ibe[伊部英治]
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现代集成电路和电子系统的地球环境辐射效应
作者：[日]Eishi H. Ibe[伊部英治] 出版：电子工业出版社 日期：2019-01-01 本书主要介绍广泛存在的各种辐射及其对电子设备和系统的影响，涵盖了造成ULSI器件出错和失效的多种辐射，包括电子、α射线、介子、γ射线、中子和重离子，从物理角度建模，以确定使用何种数学方法来分析辐射效应。本书对多种降低软错误影响的预测、检测、表征和缓解技术进行了分析和讨论。作者还展示了如何对在凝聚态物质中复杂的辐射效应进 ... |
詳情>> | 售價：NT$ 498 
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大气中子在先进存储器件中引起的软错误
作者：[日]中村刚史 等著，陈伟 等译 出版：国防工业出版社 日期：2015-10-01 中村刚史、马场守、伊部英治、矢作康夫、龟山英明*的《大气中子在先进存储器件中引起的软错误》由日本东北大学的。Takashi Nakamura、日立有限公司的Eishi Ibe和萨瑞公司的Hideaki Kamayama编*，详细介绍了宇宙射 ... |
詳情>> | 售價：NT$ 739
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| >>> （頁碼:1/1 行數:20/2） 1 |
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