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靳松 韩银和著
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纳米数字集成电路老化效应：分析、预测及优化
作者：靳松, 韩银和著 出版：清华大学出版社 日期：2012-06-01 《纳米数字集成电路老化效应：分析、预测及优化》可为从事大规模数字集成电路可靠性设计及容错计算方向研究的科技人员，以及从事大规模集成电路设计和测试的工程技术人员提供参考；也可作为普通高等院校集成电路专业的教师和研究生的参考资料。 ... |
詳情>> | 售價：NT$ 504 
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纳米数字集成电路的偏差效应分析与优化：从电路级到系统级
作者：靳松，韩银和 出版：清华大学出版社 日期：2019-06-01 本书主要涉及在纳米工艺下较为严重的晶体管老化效应负偏置温度不稳定性和制造过程中引起的参数偏差。介绍了参数偏差效应产生的物理机制及对电路服役期可靠性的影响，并提出了从电路级到系统级的相应的分析、预测和优化方法。 ... |
詳情>> | 售價：NT$ 435
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脑血管疾病数字减影血管造影（DSA）与计算机断层成像血管造影（CTA）诊断
作者：靳松、阎世鑫、佟小光 出版：人民卫生出版社 日期：2017-11-01 ... |
詳情>> | 售價：NT$ 346
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